光學外觀檢查系統(MIYABI7)

分類:

@ 突破性的外觀檢測技術

@ 為高端HDI基板的檢測設備

 

  • 突破性的AOI系統,推動印刷電路板製造工藝的提升

 

  • 新開發的光源系統可對所有基板實施高精度檢查

      

  • 前端軟體的設定非常簡單

專用工作站“CU-9000”大幅升級!只需按照終端用戶的指示書輸入檢查條件,即可自動設定為最佳之檢測條件,然後僅需執行選擇方法和輸入板厚這些簡單操作,便可在大約15分鐘內完成設定操作。

 

  • MIYABI 7主機上的設定也只需3步

 

  • 可分別對PAD和線設定條件,進一步提高了缺陷檢測精度

MIYABI 7搭載了新開發的“Pad & Line Feature檢查功能”。使用分別獨立的參數對每種 Pad 寬、線寬進行寬度測量檢查,可高精度地檢測出缺陷。

  • 孔檢查也採用新邏輯

可以以亞微米單位進行更加細緻的長度測量,大幅度提升了對孔偏以及孔徑、頸部折斷等孔周邊部位的各種缺陷的檢測精度。